Список форумов http://www.forum.evs.ru http://www.forum.evs.ru
ФОРУМЫ ЭВС (http://www.evs.ru)
 
 FAQFAQ   ПоискПоиск   ПользователиПользователи   ГруппыГруппы   РегистрацияРегистрация 
 ПрофильПрофиль   Войти и проверить личные сообщенияВойти и проверить личные сообщения   ВходВход 

Подсветка для микроскопа с VEC535

 
Начать новую тему   Ответить на тему    Список форумов http://www.forum.evs.ru -> Оборудование для систем технического зрения
Предыдущая тема :: Следующая тема  
Автор Сообщение
Grenader
Гость





СообщениеДобавлено: Чт Мар 29, 2007 10:21    Заголовок сообщения: Подсветка для микроскопа с VEC535 Ответить с цитатой

Здравствуйте.

Установили и более-менее Wink успешно используем вашу камеру VEC535 на микроскопе. Для обработки изображения используется собственная программа, которая, в частности, позволяет выделять контуры объектов с изображения.

Однако, замечено, что результат выделения контуров сильно зависит от:

1. Освещения. Чем более яркой мы делаем подсветку снизу, тем сильнее "засвечиваются" кромки объектов - контуры "съезжают" внутрь измеряемой детали.

2. Характера кромок. В зависимости от наличия "фасок", срезов и пр. кромка объекта на изображении располагается в немного разных местах.
Видимо, всё это - результат волновых эффектов на границе объекта.

Может, кто-нибудь подскажет правильную Smile подсветку?
Даст ли эффект установка источника освещения с постоянной длиной волны?
Вернуться к началу
Гость






СообщениеДобавлено: Пн Апр 02, 2007 12:46    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Наш некоторый опыт позволяет выделить несколько факторов, относящихся к случаям, подобным Вашему:
1) Если Ваша собственная программа выделяет контура по постоянному порогу бинаризации, то при увеличении интенсивности подсветки кромки объектов действительно будут смещаться внутрь.
Для уменьшения влияния изменения интенсивности можно предложить:
- регулировать интенсивность подсветки с учетом оптической плотности образцов (больше плотность - выше интенсивность);
- производить выделение контуров в программе не по постоянному порогу, а по измерению крутизны фронтов пространственных перепадов контрастности с определением точек максимальной крутизны.
2) Такое изменение в программе позволит нивелировать результаты с учетом особенностей характера кромок. Тут дело скорее не в волновых эффектах на границе объекта, а в наличии хроматических искажений используемой оптики, которые приводят к окраске контуров (синяя и красная окантовка). Применение подсветки близкой к монохроматической (осветители - зеленые или красные светодиоды с регулируемым током и с диффузным рассеянием молочными стеклами или синтетической калькой) позволит свести на нет хроматические искажения оптики и с учетом п. 1 добиться более высокой повторяемости результатов.
Успехов. Валерий.
Вернуться к началу
Grenader
Гость





СообщениеДобавлено: Чт Апр 26, 2007 10:10    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Валерий, большое вам спасибо за развёрнутый ответ. Очень много интересногоVery Happy.

Контуры у нас выделяются не по постоянному порогу, а по вычисляемому для каждого кадра, как середина цветового расстояния между цветами фона и объекта.
Тоже думал о вычислении точки максимальной крутизны, но пока руки не дошли. Ещё и субпиксельной точности хочется... Rolling Eyes

Ещё раз спасибо.
Вернуться к началу
Grenader
Гость





СообщениеДобавлено: Вт Май 15, 2007 10:29    Заголовок сообщения: Ответить с цитатой

Валерий

Интересно, а как вы определяли "крутизну фронтов пространственных перепадов контрастности с определением точек максимальной крутизны".
Rolling Eyes

Я провожу кубическую интерполяцию 4 значений (2 слева, 2 справа) второй производной вокруг перехода через 0, и считаю полученное при интерполяции значение точным положением контура.
А может, есть какие-то устоявшиеся методы субпиксельного определения положения контура? Question
Вернуться к началу
Valery
активный
активный


Зарегистрирован: 03.10.2005
Сообщения: 19

СообщениеДобавлено: Пн Май 28, 2007 11:49    Заголовок сообщения: Для Grenader Ответить с цитатой

Алгоритмов может быть много, т. е. устоявшиеся методы субпиксельного определения положения контура у каждого свои.
При ограниченном вычислительном ресурсе (без использования ПК), где используются только операции +, -, <, >, можно применить формулу MAXX=5..imgSize-1(SUMN=X..X+5 (XN-XN-1*)).
Относительно 1*: если фронт пологий и разность между соседними элементами мала, то можно вычислять ее не между соседними элементами, а через элемент или через пару элементов.
При наличии значительных вычислительных мощностей можно использовать гораздо более точные алгоритмы.

Валерий.
Вернуться к началу
Посмотреть профиль Отправить личное сообщение Посетить сайт автора
Показать сообщения:   
Начать новую тему   Ответить на тему    Список форумов http://www.forum.evs.ru -> Оборудование для систем технического зрения Часовой пояс: GMT + 4
Страница 1 из 1

 
Перейти:  
Вы не можете начинать темы
Вы не можете отвечать на сообщения
Вы не можете редактировать свои сообщения
Вы не можете удалять свои сообщения
Вы не можете голосовать в опросах


Powered by phpBB © 2001, 2005 phpBB Group